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紅外探測(cè)技術(shù)對(duì)多目標(biāo)彈道參數(shù)的測(cè)量
在對(duì)多目標(biāo)探測(cè)所用傳感器的選擇、目標(biāo)提取和數(shù)據(jù)處理等三方面技術(shù)問(wèn)題進(jìn)行分析論證的基礎(chǔ)上,提出了一種新的多、弱、小、暗目標(biāo)近地彈道參數(shù)測(cè)量方法.采用紅外熱像儀合理布站,對(duì)運(yùn)動(dòng)的多個(gè)目標(biāo)進(jìn)行空間定位;采集多目標(biāo)近地區(qū)域的下落圖像,擬合出相應(yīng)的軌跡,然后根據(jù)多條軌跡得到諸如目標(biāo)空間坐標(biāo)、軌跡、速度等彈道參數(shù).這種方法可用于測(cè)量靶場(chǎng)落點(diǎn)和近地軌跡等;尤其是在對(duì)子母彈子彈群的近地彈道參數(shù)及落點(diǎn)的測(cè)量中,通過(guò)后期處理,可快速精確地報(bào)出各子彈的落點(diǎn)坐標(biāo).
作 者: 高昕 許峰 作者單位: 高昕(北京跟蹤與通信技術(shù)研究所,北京,100094;中國(guó)科學(xué)院研究生院,北京,100039;中國(guó)科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所,陜西,西安,710068)許峰(中國(guó)科學(xué)院研究生院,北京,100039;中國(guó)科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所,陜西,西安,710068)
刊 名: 光電工程 ISTIC PKU 英文刊名: OPTO-ELECTRONIC ENGINEERING 年,卷(期): 2004 31(10) 分類(lèi)號(hào): V556 TN215 關(guān)鍵詞: 目標(biāo)探測(cè) 紅外探測(cè) 坐標(biāo)測(cè)量 作用距離 彈道參數(shù)【紅外探測(cè)技術(shù)對(duì)多目標(biāo)彈道參數(shù)的測(cè)量】相關(guān)文章:
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