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某型航空用超期電子元器件的使用問(wèn)題探討
長(zhǎng)期以來(lái),航空電子元器件的超期使用問(wèn)題一直都是航空電子產(chǎn)品可靠性研究的一個(gè)重要課題.從元器件的固有可靠性和使用可靠性兩個(gè)方面,對(duì)CBCB118雙達(dá)林頓管在某型航空產(chǎn)品上的使用問(wèn)題進(jìn)行了分析和探討.
作 者： 王芳萍 WANG Fang-ping 作者單位： 中國(guó)空空導(dǎo)彈研究院,河南,洛陽(yáng),471009 刊 名： 電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn) 英文刊名： ELECTRONIC PRODUCT RELIABILITY AND ENVIRONMENTAL TESTING 年，卷(期)： 2009 27(6) 分類(lèi)號(hào)： V241.01 關(guān)鍵詞： 航空電子元器件 超期使用 使用可靠性 固有可靠性【某型航空用超期電子元器件的使用問(wèn)題探討】相關(guān)文章：
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