單模光纖中偏振模色散測量方法的研究

比較了單模光纖中常見的幾種線性偏振模色散(PMD)的測量方法,重點(diǎn)討論了兩種最新提出的非線性PMD測量方法,詳細(xì)分析并指出了每種測量方法的優(yōu)缺點(diǎn)、測量中應(yīng)該注意的問題和它們的適用范圍.

作 者： 王軍利 方強(qiáng) 王永昌 陰亞芳 劉毓 朱永凱   作者單位： 王軍利(西安交通大學(xué),現(xiàn)代物理研究所,陜西,西安,710049;西安郵電學(xué)院,電信系,陜西,西安,710061)

方強(qiáng),陰亞芳,劉毓(西安郵電學(xué)院,電信系,陜西,西安,710061)

王永昌(西安交通大學(xué),現(xiàn)代物理研究所,陜西,西安,710049)

朱永凱(西安交通大學(xué),激光與紅外技術(shù)研究所,陜西,西安,710049) 

刊 名： 半導(dǎo)體光電  ISTIC PKU 英文刊名： SEMICONDUCTOR OPTOELECTRONICS  年，卷(期)： 2004 25(5)  分類號： O436.3  關(guān)鍵詞： 單模光纖   光纖測量   偏振模色散   非線性  

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