基于邊界掃描技術(shù)和Tcl語言的DualSRAM測試設(shè)計(jì)

集成電路(IC)的迅猛發(fā)展促進(jìn)了測試技術(shù)的研究和發(fā)展,支持IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)的邊界掃描芯片的廣泛應(yīng)用,使得邊界掃描測試技術(shù)日益被重視.Tcl語言是一種簡明、高效、移植性強(qiáng)的語言,它與邊界掃描技術(shù)的結(jié)合,擴(kuò)展了芯片測試技術(shù)的應(yīng)用,使得IC的測試更加靈活.本文以DualSRAM的測試設(shè)計(jì)為例,介紹了以邊界掃描技術(shù)為基礎(chǔ)的Tcl語言的應(yīng)用,同時(shí)根據(jù)測試開發(fā)中遇到的問題,提出了一些可測性設(shè)計(jì)(DFT)的建議.

作 者： 王鳳馳 胡丙華 Wang Fengchi Hu Binghua   作者單位： 中國電子科技集團(tuán)電子第三十八研究所,安徽合肥,230031  刊 名： 電子測試  英文刊名： ELECTRONIC TEST  年，卷(期)： 2009 ""(6)  分類號： PT312  關(guān)鍵詞： 邊界掃描   Tcl語言   DualSRAM測試   DFT  

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